DIE CHANGES Search Results

SN74FB2041A

Abstract: 84-1LMIS SN74FB2031 SN74FB2041ARC
Contextual Info: TEXAS INSTRUMENTS Qualification Notification for the SN74FB2041A, Die Revision C January 15, 1996 Abstract Texas Instruments has qualified the SN74FB2041A, Die Revision C, to replace the SN74FB2041, Die Revision B. Die revision C was designed to improve propagation delay times. Data sheet changes are

LRIS64K

Abstract: DSASW003741
Contextual Info: TN0193 Technical note LRIS64K bumped die description Product information • Product name: LRIS64K Wafer and die features July 2010 Wafer diameter: 8 inches Wafer thickness: 180 µm Die identification: M24RF64A1 Die finishing front side : SiO2 Die finishing (back side):

F37011

Contextual Info: TN0055 Technical note SRI4K die description Product information ● Product name: SRI4K ● Die code: P117ZMY Wafer and die features October 2007 Wafer diameter 8" Wafer thickness 180 µm Die technology F6SPs40s 3M 1P Diffusion Plant Chartered Die identification

lexan 920

Abstract: Lexan-920 lexan .920 VI-260-CV VI-J00 Wakefield Engineering
Contextual Info: 8 Sicherheits-Vorschriften Sicherungen. Die Zulassungsbestimmungen der Sicherheitsbehörden machen es erforderlich, daß die Module abgesichert werden. Die Sicherung muß in die +Input Leitung geschaltet werden, nicht in die –Input Leitung, da eine Unterbrechung der –Input Leitung bewirken würde, daß die GateAnschlüsse auf das Spannungspotential der +Input Leitung

transistor MN1

Abstract: NAND Qualification Reliability HC00D SN74HC00 texas instruments lot trace code EN-4088Z HC00 HCT00 SN74HCT00 S01-06800
Contextual Info: TEXAS INSTRUMENTS Qualification Notification for the SN74HC00 and SN74HCT00, Die Revision K August 20, 1997 Abstract Texas Instruments qualified the SN74HC00 and SN74HCT00 die revision K, to replace the SN74HC00 die revision F and the SN74HCT00 die revision G. Die revision K is a product

Contextual Info: Nutzungsbedingungen Die in diesem Produktdatenblatt enthaltenen Daten sind ausschließlich für technisch geschultes Fachpersonal bestimmt. Die Beurteilung der Geeignetheit dieses Produktes für die von Ihnen anvisierte Anwendung sowie die Beurteilung der Vollständigkeit der

Contextual Info: Nutzungsbedingungen Die in diesem Produktdatenblatt enthaltenen Daten sind ausschließlich für technisch geschultes Fachpersonal bestimmt. Die Beurteilung der Geeignetheit dieses Produktes für die von Ihnen anvisierte Anwendung sowie die Beurteilung der Vollständigkeit der

Contextual Info: -40.+125 Nutzungsbedingungen Die in diesem Produktdatenblatt enthaltenen Daten sind ausschließlich für technisch geschultes Fachpersonal bestimmt. Die Beurteilung der Geeignetheit dieses Produktes für die von Ihnen anvisierte Anwendung sowie die Beurteilung der Vollständigkeit der

MAX232

Abstract: EN-4088Z SN74ABT16240 SN74ABT16240A SN74ABT16241 SN74ABT16241A 1500KV ABT16241 Hitachi EN-4088Z ABT16240A
Contextual Info: TEXAS INSTRUMENTS Qualification Notification for the SN74ABT16240A and SN74ABT16241A, Die Revision D February 20, 1997 Abstract Texas Instruments qualified the SN74ABT16240A and SN74ABT16241A die revision D replacing die revision B. Die revision D includes an all layer change, which incorporates timing

ABT16541A

Abstract: SN74ABT16540 SN74ABT16540A SN74ABT16541 SN74ABT16541A abt245n ASL2B SN74ABT245 EN4088Z
Contextual Info: TEXAS INSTRUMENTS Qualification Notification for the SN74ABT16540A and SN74ABT16541A, Die Revision D May 14, 1997 Abstract Texas Instruments qualified the SN74ABT16540A and SN74ABT16541A die revision D, replacing die revision B. Die revision D includes an all layer change and improves the

SN74ABT162823

Abstract: SN74ABT162823A
Contextual Info: TEXAS INSTRUMENTS Device Revision Notification for the ABT162823A Die Revision A August 9, 1996 Abstract Texas Instruments has qualified the SN74ABT162823A, Die Revision A, to replace the SN74ABT162823, Die Revision X. Die revision A was designed to improve ESD performance. Data

Ablebond 71-1

Abstract: Ablebond 71 BCT8373 SN74BCT8373 SN74BCT8373A 5247 8 pin
Contextual Info: TEXAS INSTRUMENTS Qualification Notification for the SN74BCT8373A, Die Revision B February 7, 1996 Abstract Texas Instruments has qualified the SN74BCT8373A, Die Revision B, to replace the SN74BCT8373, no die revision. Die revision B was redesigned to conform to IEEE Standard 1149.11990 JTAG . The die and device revision are necessary to change the TDO drive state controls to

drucksensoren

Abstract: Druck pressure sensor druck pressure
Contextual Info: SIEMENS 5 Elektrische Kenndaten Electrical Characteristics Elektrische Kenndaten 5 Die typische Kennlinie eines Drucksensors ist in Bild 29 beschrieben. Während die Summe aller Störgrößen bei 1 % vom Endwert gehalten werden kann, muß die Nullpunktspannung Vo. die Empfindlichkeits­

Contextual Info: Application Note Switch Die Measurement Fixture Rev 0 RELEVANT PRODUCTS • calibration structure and the other 24 elements are used to measure die. Figure 1 illustrates a measurement element for a single pole, double throw SPDT switch die. All ANADIGICS Switch Die

ABT841A

Abstract: 74ABT841 SN74ABT841 SN74ABT841A
Contextual Info: TEXAS INSTRUMENTS Device Revision Notification for the SN74ABT841A, Die Revision B August 21, 1996 Abstract Texas Instruments has qualified the SN74ABT841A, Die Revision B, to replace the SN74ABT841, ‘No-Rev’ die revision. Die revision B was redesigned to improve Capacitive Discharge Model CDM

C55T

Contextual Info: AUSTIN SEMICONDUCTOR INC bOE D • RQQ21L7 OOOQiiOS 44H H A U S T MT4C4001J DIE 1 M EG X 4 DRAM MICRON MILITARY DRAM DIE 1 MEG x 4 DRAM DIE FEATURES DIE OUTLINE (Top View OPTIONS 14 13 12 11 10 5 4 3 2 DIE DATA BA SE D15B PASSIVATION LAYER M A SK # 80B ORDER NUMBER

CBT3384A

Abstract: CBT3384
Contextual Info: TEXAS INSTRUMENTS Qualification Notification for the CBT3384A, Die Revision C October 6, 1995 Abstract Texas Instruments Advanced System Logic has qualified the CBT3384A, die revision C to replace the CBT3384, die revision A. Die revision C was redesigned to improve ESD and AC data sheet

MT4C4001

Abstract: mt4c4001jdc sm03b
Contextual Info: MICRON TECHNOLOGY INC 55E D WÊ blllSHT ITT H I URN M T4C4001J DIE 1 MEG x 4 DRAM fAICRQN MILITARY DRAM DIE 1 MEG x 4 DRAM DIE FEATURES DIE OUTLINE Top View 14 13 12 11 10 15 5 4 3 2 □ □ □ □ □ □□□ □ □ □ □□□ □ DIE DATA BASE D15B

EPIC-1ZS

Abstract: sn74cbt3384dw relco a016 CBT16209 CBT16212 SN74CBT16209 SN74CBT16209A SN74CBT16212 SN74CBT16212A
Contextual Info: TEXAS INSTRUMENTS Qualification Notification for the SN74CBT16209A, Die Revision E and SN74CBT16212A, Die Revision D April 1, 1998 Abstract Texas Instruments has qualified a device revision for the CBT16212A, die revision ‘D’ and the SN74CBT16209A, die revision ‘E’. These devices were redesigned in order to incorporate improved

ZMD31010

Abstract: ZMD AG "Signal Conditioner"
Contextual Info: ZMD31010 RBicLiteTM Low-Cost Sensor Signal Conditioner Technical Notes – Die Dimensions and Pad Coordinates PRELIMINARY ZMD31010 RBicLite Technical Notes Die Dimensions and Pad Coordinates Contents 1 RBICLITE™ DIE DIMENSIONS. 2

74AHC1G32DBV

Abstract: 74AHC1G00 74AHC1G04 SN74AHC1G00 SN74AHC1G08 SN74AHC1G32 SN74AHCT1G00 SN74AHCT1G08 SN74AHCT1G32 AHCT 125
Contextual Info: TEXAS INSTRUMENTS Informational Notification for Several AHC/AHCT Devices, Die Revision ‘C’ April 24, 1998 Abstract Texas Instruments has qualified several AHC/AHCT devices, die revision ‘C’ for the new DCK package. Die revision ‘C’ is a product redesign that includes a die shrink to fit the new

lvt245

Abstract: LVT245A LVT245K SN74LVT245
Contextual Info: TEXAS INSTRUMENTS Qualification Notification for the SN74LVT245A, Die Revision K May 14, 1996 Abstract Texas Instruments Advanced System Logic has qualified a device and die revision for the SN74LVT245A. The die was redesigned to enhance device performance.

abt245

Abstract: DW 5255 ABT245B SN74ABT245 SN74ABT245A SN74ABT245B SN74ABTH245 ABT245A
Contextual Info: TEXAS INSTRUMENTS Qualification Notification for the SN74ABT245B, Die Revision J May 10, 1996 Abstract Texas Instruments Advanced System Logic is issuing this notification to qualify the SN74ABT245B, die revision J to replace the SN74ABT245A, die revision H.

0.1 micro farads capacitor

Contextual Info: CY2037 High Accuracy EPROM Programmable PLL Die for Crystal Oscillators High Accuracy EPROM Programmable PLL Die for Crystal Oscillators Features Functional Description • Erasable programmable read only memory EPROM programmable die for in-package programming of crystal