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Franz Auerbach, Siemens Christian Lammers, Bochum Andreas Lenniger, eu
Top Searches for this datasheetAl-Dickdraht-Bondverbindungen IGBTModulen Franz Auerbach, Siemens Christian Lammers, Bochum Andreas Lenniger, eupec GmbH, Warstein-Belecke Herbert Schwarzbauer, Siemens ZFE, Karl-Heinz Sommer, eupec GmbH, Warstein-Belecke Einleitung Applikationen Untersuchungsparameter Ergebnisse Zusammenfassung eupec GmbH Max-Planck-Str. D-59581 Warstein-Belecke Tel.: 02902/764-401 Fax.: 02902/764-427 E-Mail: 1/11 Dr.-Ing. Lenniger, Vortrag ISHM96 Lenniger.doc, 09.07.1998 Applikationen I(soalted) G(ate) B(ipolar) T(ransistor)-MCMs (incl. Freilaufdiode) Chip zwecks Wechselrichtung einer DC-Spannung Sperrspannungen 3500 10µs Verschaltungen Einzelschalter Interne externe Parallelschaltung IGBTs. Abb. Verschaltungsbeispiel Module Antriebs- Automatisierungstechnik Antriebsleistungen 1000 2/11 Dr.-Ing. Lenniger, Vortrag ISHM96 Lenniger.doc, 09.07.1998 Applikationen Montagetechniken IGBT-Module: mehrerer Chips metallisierte Keramik Drahtbonden Chips (Parallelbondungen) mehrerer gebondeter Keramiken Bodenplatte. oder Bondung Keramiken Hochisolierender alle Komponenten. Dickdraht-Bondtechnik IGBT-Leistungshalbleiter-Modul Bondungen Chips Hochstrommodule 2400 Bondung (Economodul) Hohe Kundenspezifikationen hoher Automatisierungsgrad 3/11 Dr.-Ing. Lenniger, Vortrag ISHM96 Lenniger.doc, 09.07.1998 Applikationen Case Main Terminal Epoxy Resin Silicone Wire Base Plate Silicon Chip Ceramic Substrate Solder Prinzipskizze eines Hochstrommoduls lcone Cover Case Base lcon Ceram Prinzipskizze eines Economoduls 4/11 Dr.-Ing. Lenniger, Vortrag ISHM96 Lenniger.doc, 09.07.1998 Untersuchungsparameter Bondverbindung: Temperatur Bonddrahtes Nennbelastung Puls) etc.) auslegen. Lastwechselfestigkeit Bondverbindung: (zyklische Temperaturbelastung durch aktive passive Parameter: Tmin, Tmax, Mittentemperatur), ton, toff Drahtmaterialdefekte ,,Lift Off" LW-Ausfall wird Ausfall wichtig Dickdraht-Bondverbindungen dominantes eupec. 5/11 Dr.-Ing. Lenniger, Vortrag ISHM96 Lenniger.doc, 09.07.1998 Untersuchungsparameter Bondparameter Drahtdurchmesser (300 Drahtdotierungen (Bezeichnung z.B.: 4N+X 99,99% Dotierung) silikonvergossene Parallelschaltung gleich- ungleichlangen Pulsstrom- DC-Belastung Bonddrahttemperatur Stromes Drahtversiegelungen (Passivierung Bonds nach Bondung) 6/11 Dr.-Ing. Lenniger, Vortrag ISHM96 Lenniger.doc, 09.07.1998 Ergebnisse Maximalstromes max.Strom [mm] 62,4 300µm Draht 320µm Draht 400µm Draht 500µm Draht 41,8 24,2 4.1.1 Maximalstromes Drahtdurchmesser Parameter. Draht ruhender Luft. Substrattemp. 25°C sinkt ,,unter"proportional Frage: Stromauslastung dimensionieren 7/11 Dr.-Ing. Lenniger, Vortrag ISHM96 Lenniger.doc, 09.07.1998 Ergebnisse Zusammenhang zwischen Drahttemperatur Stromauslastung 300µm Draht 300µm Draht 500µm Draht Temperaturanstieg Schmelztemperatur 300µm Draht Thermokamera Stromauslastungsgrad 4.1.2. Drahttemperatur verschiedenen Parameter Stromauslastung keine Drahtdurchmesser gute Kontrollmessung Thermokamera Stromauslastung entspricht Temperaturauslastung 8/11 Dr.-Ing. Lenniger, Vortrag ISHM96 Lenniger.doc, 09.07.1998 Ergebnisse Lastwechsel-Festigkeit Hohlkehle 4.2.1: Ausgefallende Bondverbindung Chip Ausfallursachen: Schliffbild) Mismatch Si-Cu-Verbund Hohlkehle Entstehung grobkristalliner Bereiche Alumimium Grenzschicht aber Al-Draht Al-Resten (inhomogene Korngrenzenverteilung) Al-Metallisierung Chips rekristallisiert nicht passivierten Stellen. Lift [Drahtabheber] (Defekt VCE- Anstieg) 9/11 Dr.-Ing. Lenniger, Vortrag ISHM96 Lenniger.doc, 09.07.1998 Ergebnisse Lastwechsel-Festigkeit Lastwechselfestigkeit eupec Modulen Tmax=125°C. 1,E+08 400µm 400µm 4N+X 400µm 4N+X1-3 400µm 4N+X pass. 1,E+07 Anzahl Lastwechsel 1,E+06 Noch Test 1,E+05 1996/97 1995/96 1,E+04 Kundenanforderungen 1994/95 1,E+03 Delta 4.2.2: Vergleich Lastwechsel-Ergebnisse Mittentemperatur Lastwechselfestigkeit Warmfestigkeit reiner Draht desto Lastwechselfestigkeit. Drahtdotierung entscheidend Passivierung verbessert Lastwechselfestigkeit deutlich. 10/11 Dr.-Ing. Lenniger, Vortrag ISHM96 Lenniger.doc, 09.07.1998 Zusammenfassung Drahtdurchmesser sind dominierenden Parameter Drahttemperatur steigt exponentiell Strombelastungsgrad Stromauslastung Temperaturauslastung DC-Belastung kritischer Parameter ,,unter"proportional Lastwechsel-Festigkeit Drahtdotierung zeigt bessere LW-Ergebnisse nach Dotierung jedoch deutliche Unterschiede Drahtversiegelungen steigern Spezial-Applikationen verwendeter Drahtdurchmesser geringen 11/11 Dr.-Ing. Lenniger, Vortrag ISHM96 Lenniger.doc, 09.07.1998 Other recent searchesSTB11NK40Z - STB11NK40Z STB11NK40Z Datasheet STP11NK40ZFP - STP11NK40ZFP STP11NK40ZFP Datasheet QBA-07 - QBA-07 QBA-07 Datasheet QBA-12N - QBA-12N QBA-12N Datasheet MT3S03AT - MT3S03AT MT3S03AT Datasheet HMC794LP3E - HMC794LP3E HMC794LP3E Datasheet DS2505 - DS2505 DS2505 Datasheet ATFN6036A - ATFN6036A ATFN6036A Datasheet
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